當(dāng)空氣濕度變高時(shí)，水蒸氣會(huì)在村田電容的外殼表面形成一層水膜，這可能會(huì)導(dǎo)致電容器的表面絕緣電阻下降。同時(shí)，水分還有可能滲透到電容器的介質(zhì)內(nèi)部，使得電容器的介質(zhì)絕緣電阻和絕緣能力也會(huì)下降。離子遷移的后果就是，它會(huì)嚴(yán)重破壞電容器正電極表面的銀層。引線焊點(diǎn)和電極表面銀層之間，也就是半密封結(jié)構(gòu)電容器的電極間隙，會(huì)夾著氧化銀這種半導(dǎo)體，導(dǎo)致電容器的等效串聯(lián)電阻增大，金屬部分的損耗也隨之增加。電容器的損耗角正切值會(huì)因此大幅上升。

另外，空氣濕度高時(shí)，水蒸氣在電容器的外殼表面形成水膜，會(huì)使電容器的表面絕緣電阻下降。而且，對(duì)于半密封結(jié)構(gòu)電容器來說，水分還有可能滲透到電容器的介質(zhì)內(nèi)部，使得電容器介質(zhì)的絕緣電阻和絕緣能力下降。

總之，高溫、高濕的環(huán)境對(duì)電容器參數(shù)惡化的影響非常顯著。雖然烘干去濕可以改善電容器的電性能，但是水分子電解產(chǎn)生的后果，是無法完全根除的。比如，電容器在高溫條件下，水分子在電場(chǎng)作用下會(huì)電解成氫離子（H+）和氫氧根離子（OH-），引線根部會(huì)因此產(chǎn)生電化學(xué)腐蝕。即使烘干去濕，也無法使引線恢復(fù)原樣。

離子遷移會(huì)嚴(yán)重破壞電容器正電極表面的銀層，引線焊點(diǎn)和電極表面銀層之間，會(huì)夾著氧化銀這種半導(dǎo)體，導(dǎo)致電容器的等效串聯(lián)電阻增大，金屬部分的損耗也隨之增加。電容器的損耗角正切值也會(huì)因此大幅上升。

總的來說，銀離子遷移不僅會(huì)使非密封無機(jī)介質(zhì)電容器的電性能惡化，還有可能導(dǎo)致內(nèi)部短路、高的漏電流、容值損失、ESR值的上升和電路開路。而且，它甚至還有可能導(dǎo)致電容器介質(zhì)擊穿場(chǎng)強(qiáng)下降，最后導(dǎo)致電容器被擊穿。