超級電容器具有非常高的電阻值,但仍然存在漏電流產(chǎn)生。這種漏電流可以視為將超級電容器維持在規(guī)定電壓值所需的充電電流。然而,漏電流的測量結(jié)果會受到溫度、器件充電電壓及其老化條件的影響。在額定直流電壓和室溫下,大多數(shù)超級電容器數(shù)據(jù)表都會顯示漏電流性能,例如AVX 1的SCC系列超級電容器。
為了測量漏電流,我們可以使用電阻和內(nèi)阻阻抗較高的萬用表進(jìn)行測試。首先,我們將超級電容器的額定電壓在常溫(25°)下充電72小時。然后,斷開開關(guān)SW(約10分鐘),讓超級電容器的溫度和內(nèi)部結(jié)構(gòu)穩(wěn)定。接著,合上開關(guān),用一個內(nèi)阻阻抗較高的萬用表測量電阻(電阻值已知,便于計(jì)算)兩端的電壓。最后,我們可以通過公式漏電流DCL = V/R計(jì)算出漏電流的值。
需要注意的是,漏電流的值會隨著溫度、充電電壓和器件的老化條件的變化而變化因。此,在測試過程中需要保持穩(wěn)定的溫度和充電電壓,并使用已知的電阻值進(jìn)行計(jì)算。此外,對于不同的超級電容器型號和規(guī)格,其漏電流性能也會有所不同,因此需要根據(jù)具體的器件規(guī)格和數(shù)據(jù)表進(jìn)行測量和計(jì)算。
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